| 私たち品質保証部は品質保証課、分析課で構成され、当社の品質保証体制を支えています。 |
 |
品質保証部門
品質保証体制
品質方針
- 「技術革新の源は高純度材料にあり」を信念に、積極的に新しい技術に取り組み、研究者や技術者から信頼される企業を目指す。
- 法令・規制要求事項を遵守し、お客さまの要求事項を最優先で考え、高品質の材料を、より短納期、低価格で供給することを目指す。
- 品質目標を設定し、そのレビューを行い、品質マネジメントシステムを継続的に改善していく。
品質方針を基に“3年度後にあるべき姿”を到達点とした中期計画を策定し、年度毎に目標を設定し継続的改善を推進致します。
品質マネジメントシステム
私たちは品質保証体制の更なる強化とお客様の信頼性向上を目的として、本社工場、東松山工場、大阪支店のシステムとして品質マネジメントシステム「ISO 9001」の認証を取得しております。
これからも、品質マネジメントシステムを有効に運用し、お客様に満足していただける製品の安定供給を図って参ります。
| 認証規格名 | ISO 9001: 2008 |
|---|---|
| 認証取得日 | 1998年4月 |
| 認証範囲 | 電子材料及び半導体材料における薄膜用のCVD材料及びPVD材料の設計・開発、製造及び販売無機化学品及び機能性化学材料(メッキ液、金属アルコキシド)の設計・開発、製造及び販売 |
| 認証取得事業所 | 全社（本社、本社工場、東松山工場、大阪支店） |
| 審査登録機関 | テュフラインランドジャパン株式会社 |
| 登録認証番号 | 09 100 79304 |
品質活動
私たちの作る製品は電子材料、半導体材料、機能性材料等の原材料として多くのお客さまからご愛顧頂いております。
私たちはお客さまのご使用用途に応じた生産体制を整え、且つ作業環境維持として職場改善活動及び5S活動を通じ信頼性を追求して参る所存でいます。
【清掃風景】
5S活動として定期清掃ルールを定め、特に目にとどきにくい、分電盤・制御盤の上部、パソコンラック、スチール棚下床を重点的に清掃。
チェックリストによる環境維持を行っています。
分析部門
当社では、製品の品質を保証するために、品質マネジメントシステムの確立とともに、「高純度」を確認保証するための分析力の充実を図っています。種々広範囲な分析機器を設備し、経験豊富な分析技術者により、高精度な分析力でお客様のご要望にお応えできる体制を整えています。
主な分析機器
ICP-MS（誘導結合プラズマ質量分析装置）
| ICP-MS（誘導結合プラズマ質量分析装置）は高温アルゴンプラズマ中に試料を噴霧し、イオン化された元素を質量分析する高感度無機元素分析装置です。その測定濃度範囲はppbからppt濃度領域に及びます。当装置はマトリックスに強い多原子イオン干渉の除去を目的としたオクタポールリアクションセルシステムを搭載した装置です。 |  |
ICP-AES（誘導結合プラズマ発光分光分析装置）
| ICP-AES（誘導結合プラズマ発光分光分析装置）は励起源はICP-MSと同じですが、励起された光を分光器により分光し、そのスペクトルを測定する装置です。光の波長は元素特有であり、また光の強度はその元素の量に比例することから高感度な定性・定量が出来る装置です。ダイナミックレンジが4〜5桁におよび多元素同時に定量出来るという特徴を持っています。 |  |
原子吸光光度計
| 原子吸光光度計は原子状の蒸気が金属固有の波長の光を吸収する特徴を用いてその吸収量を測定する無機元素測定装置です。 当装置はバックグラウンドの補正に原子化部に磁場をかけるゼーマン補正を利用しています。またフレーム分析とグラファイト炉分析を切り替えて一台で行えるタンデム原子吸光光度計です。 |
 |
酸素窒素分析装置
| He気流中でサンプルを黒鉛るつぼに入れ大電流を流すと電気抵抗により急速に加熱され、サンプルは熱分解され酸素はCOとして、窒素はN2としてキャリアガスによって運ばれます。これを酸素は赤外線検出器で、窒素は熱伝導度検出器で測定しそれぞれの濃度に換算して定量します。 |  |
電位差滴定装置
| 電位差滴定は容量分析法の一種であり、電極電位の変化と滴定量とで滴定曲線を作成し滴定の終点を求める方法です。これをオートビュレットを用い自動的に行うのがこの装置です。当社では銀電極を用い塩素量の定量分析を行っています。 |  |
電界放射型走査電子顕微鏡（FE-SEM）
| SEMは電子線を試料に照射した際に発生する二次電子線を検出して表面状態を観察する装置です。当装置は電界放射型（FE）で電子線を細く絞っても充分な輝度が得られるため、汎用型（タングステンフィラメント使用）に比べ高分解能観察が可能です。また付属のエネルギー分散型のX線分析装置により試料表面の微小領域における元素分析（マッピング）が可能です。 |  |
レーザー回折／散乱式粒度分布測定装置
| 粒子にレーザー光を照射したときに空間的に回折／散乱現象が起こり、光強度分布パターンが生じます。これは照射された粒子の大きさに依存しています。粒度分布とは測定全粒子の複合パターンからFraunhofer回折理論及びMie散乱理論を用いた理論的な計算により粒径の分布を求めるものです。この方式は測定時間が短く、再現性に優れていて操作が簡単であるなどの特徴を持っています。 |  |
X線回折装置（XRD）
| X線の回折現象を利用し、粉末状の結晶もしくは多結晶体の情報を得る装置です。サンプルからの回折されたX線の角度と強度を測定することにより、サンプルの定性・定量分析を始めとする材料評価・解析等を行うことが出来ます。 |  |
分析料金表
| 分析項目 | 料金／円 | |
|---|---|---|
| 原子吸光定量分析 | 1試料1成分につき 試料調製料1試料につき |
5,000〜 5,000〜 |
| ICP分析 | 1試料1元素につき 試料調製料1試料につき |
5,000〜 5,000〜 |
| 螢光X線定性分析 | チャートのみ1試料につき 解析料1試料につき |
15,000 15,000 |
| X線回折定性分析 | チャートのみ1試料につき 解析料1試料につき |
15,000 15,000 |
| 電子顕微鏡走査型 | 1試料につき | 23,000 |
| 粒度分布 | 1試料につき | 15,000 |
| ラジオフレックス （X線透過写真） |
1試料につき | 10,000 |
詳しくはこちらからお問い合せ下さい。