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分析

Analysis

信頼性の高い分析を行うために必要なのは、適切な作業環境と最新鋭の分析機器、そして確かな技術を持った分析技術者です。

分析部門では、高純度材料メーカーとして蓄積してきた知識や経験を生かし、製品の品質保証や新材料開発を行うために重要な分析評価を行っています。
弊社製品をご購入いただいたお客様への追加分析対応の他、分析のみのご依頼にも対応いたします。

主な分析作業は、温湿度管理され除塵設備を備えた分析専用棟にて行っています。
極微量不純物分析は、クリーンルーム内にて前処理から測定までを行うことで環境からの不純物混入を排除しています。

受託分析

分析料金表

各種分析料金表

※スクロールしてご覧いただけます。

分析・試験方法 分析・試験内容 料金(税別)
ICP分析 組成分析 分析前処理費用 5,000円
定量分析(1元素につき) 5,000円
不純物分析 分析前処理費用 5,000円
定量分析(1元素につき) 3,000円
X線回折 標準測定 チャートのみ1試料につき 15,000円
解析1試料につき 15,000円
昇温測定 チャートのみ1試料につき 別途見積
解析1試料につき 別途見積
走査型電子顕微鏡
(FE-SEM)
形態撮影 1試料につき(2視野まで) 25,000円
面分析(マッピング) 1測定点につき 30,000円
粒度分布 標準測定 1試料につき 15,000円
特殊溶媒測定の場合 1試料につき 20,000円
ガス分析 O分析 1試料につき 10,000円
N分析 1試料につき 10,000円
ラジオフレックス
(X線透過写真)
  1試料につき 10,000円

分析料金表について

記載されている金額は標準的な価格になります。

詳細は弊社営業部までお問い合わせください。

詳しくはこちらからお問い合わせください。

RoHS指令規制物質分析料金表

※スクロールしてご覧いただけます。

RoHS分析 元素名 料金(税別)
カドミウム(Cd) 5,000円
鉛(Pb) 5,000円
総クロム(Cr) 5,000円
六価クロム(Cr6+ 6,000円
水銀(Hg) 6,500円
諸経費 一試料につき 3,500円

RoHS指令規制物質分析料金表について

記載されている金額は標準的な価格となります。
分析方法につきましては別途お問い合わせください。
サンプル構成によっては、特殊前処理費、加工費をいただく場合があります。
サンプル費用を申し受ける場合があります。
ISO17025認定機関による分析をご希望の場合は別途お問い合わせください。

詳しくはこちらからお問い合わせください。

主な設備

クリーンルームとクリーンドラフト

高純度製品の分析を行う場合は特別な環境下にて前処理を行い、分析を行っています。

※クラス100とは、1立法フィート(約28L)中に含まれる大きさ0.5μm以上の塵埃の数が100ヶ以下であることを表します。

クラス100のクリーンドラフト

クラス100のクリーンドラフト

クラス1000のクリーンルーム

クラス1000のクリーンルーム

誘導結合プラズマ質量分析装置 ICP-MS

測定原理

高温アルゴンプラズマ中に溶液化した試料を噴霧し、イオン化された元素を質量分析する高感度無機元素分析装置です。周期表上のほとんどの元素を同時に測定可能であり、その測定範囲はppbからppt濃度領域に及びます。

プラズマの様子

プラズマの様子

高感度無機元素分析装置

誘導結合プラズマ発光分光分析装置 ICP-OES

測定原理

励起源はICP-MSと同じですが、励起された光を分光器により分光し、そのスペクトルを測定する装置です。光の波長は元素特有であり、また光の強度はその元素の量に比例することから、高感度な定性・定量ができる装置です。ダイナミックレンジが4~5桁におよび多元素同時に定量できるという特徴を持っています。

※ICP-OESはICP-AESと同じ誘導結合プラズマ発光分光分析装置の名称
ICP-OES:Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry
ICP-AES:Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry

発光スペクトル例

発光スペクトル例

発光スペクトル例
発光スペクトル例

炭素・硫黄分析装置

測定原理

固体試料と助燃剤をセラミックスるつぼに投入し、高濃度酸素気流中で高周波電流にて試料を燃焼させます。

試料中のガス成分を赤外線検出器にてスペクトルを測定することで炭素、硫黄の定量分析をする装置です。

炭素抽出ピーク例

炭素抽出ピーク例

測定用セラミックスるつぼ

セラミックスるつぼ

炭素・硫黄分析装置

X線回折装置 XRD

測定原理

粉末あるいは固体試料にX線を照射すると試料内の結晶より回折X線が検出されます。

この回折X線の位置や強度について、測定データと標準データを比較し定性分析(同定)をする装置です。

X線回折チャート例

X線回折チャート例

粉末X線回折装置 XRD

昇温X線回折装置

測定原理

上記X線回折装置と組み合わせて使用します。
試料を高温に加熱することにより、温度上昇による結晶構造変化や物質変化(状態図)などの情報が得られます。
不活性ガス雰囲気や、真空状態での測定も可能です。

昇温X線回折装置

昇温X線回折装置

電界放射型走査型電子顕微鏡 FE-SEM

測定原理

細い入射電子線を試料に照射し、放出された二次電子線を用いて画像にすることで、表面の凹凸や試料形状・大きさを観察する装置です。

粉末のSEM観察例
粉末のSEM観察例

粉末のSEM観察例

電界放射型走査型電子顕微鏡分析装置

エネルギー分散型蛍光X線装置 EDS

測定原理

細い入射電子線を試料に照射すると、試料から様々な電子・電磁波が放出されます。 放出された特性X線のエネルギーを用いて元素分析やマッピング分析する装置です。分析結果例

EDS分析結果例

粒度分布測定装置

測定原理

溶液に分散させた粉末試料にレーザー光を照射すると回折/散乱現象が起こります。

この光強度分布は粒子の大きさに依存するので、その現象から粒子径を計測する装置です。

回折/散乱理論は試料が真球であることが前提に計算されております。

粒度分布測定装置