分析
进行高度可靠的分析所需的是适当的操作环境、最先进的分析仪器和具备可靠技能的分析技术人员。
我们的分析部门通过作为高纯度制造商所积累的知识和经验，对产品进行分析和评估。
这些分析和评估对确保产品质量和开发新材料上至关重要。我们除了为购买我们产品的客户进行附加的分析以外，我们还可接受对客户所持有的产品进行分析的依赖。
分析的主要操作是在一个装有温度和湿度控制装置和除尘器的分析专用建筑内进行的。在分析微量杂质的过程中，从预处理到测量的整个过程都是在无尘室里进行的，可以有效的防止杂质的混入。
无尘室及无尘排气机
对高纯度产品进行分析时，需要在特殊的环境下对其进行预处理并进行分析。
※100级是指1立方英尺（约28L）中所含有大小为0.5μm以上的尘埃数保持在100以下。
100级的无尘排气机
1000级的无尘室
电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS
测量原理
此装置是在氩气等离子环境中喷洒液态的实验材料，使其电离后对其原子进行元素鉴定，定量分析的高感度元素分析装置。测量的浓度范围可达到ppb～ppt。
等离子的外观
电感耦合等离子体发射光谱仪 ICP-OES
测量原理
用酸性溶液将固态实验材料溶化后，再用设备中的等离子将原子进行激发。激发状态的原子在变回到基态的同时，根据不同的元素会发出特定波长的光线。电感耦合等离子体光谱仪是通过测量其光谱对元素进行定性・定量分析的装置。
※ICP-OES与ICP-AES是同样的电感耦合等离子体发射光谱仪的名称
测量图例
碳硫分析仪
测量原理
将固态实验材料和助燃剂一起投入陶瓷坩埚，在高浓度的氧气中用高周波电流使实验材料进行燃烧。
碳硫分析仪是通过用红外线探测器测量实验材料中气体成分的光谱，对碳素・硫磺进行定量分析的装置。
碳素最大提取例
测量用的陶瓷坩埚
X射线粉末衍射仪 XRD
测量原理
对粉末或固态实验材料进行X射线照射后，可从其内部的晶体检测出衍射后的X射线。
这是一种将实测数据与标准数据进行比较并对衍射X射线的位置和强度进行定性分析（识别）的装置。
X射线衍射图例
升温分析机
测量原理
升温分析机是与上述X射线衍射仪同时使用的装置。通过将样品加热至高温，伴随温度的上升可获得晶体结构变化及物质变化（状态图）等信息。测量也可以在惰性气体或真空环境中进行。
升温分析机
场发射扫描电子显微镜分析仪 FE-SEM
测量原理
场发射扫描电子显微镜分析仪是一种将入射电子束对实验材料进行照射，对其释放出的二次电子进行成像,并观测其表面的粗糙度以及形状，大小的装置。
用扫描电子显微镜观察粉末的一例
能量色散X射线荧光光谱仪 EDS
测量原理
将入射电子束对实验材料进行照射,使其释放出各种电子及电磁波。能量色散X射线荧光光谱仪是一种使用这种被释放出的特定X射线的能量进行元素分析及图谱信息分析的装置。 
粒度分布分析仪
测量原理
当用激光照射分散在溶液中的粉末样品时，会出现衍射/散射现象。
由于光强度的分布取决于粒子的大小，可以从现象中对粒子的直径进行测量。
基于衍射/散射理论的计算是在假设粒子是完全球形的情况下进行的。
