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強誘電体・圧電体テスター/Vision ソフトウェア

Ferroelectric・Piezoelectric tester/Vision software

強誘電体・圧電体テスター

PiezoMEMS Analyzer

マルチフェロイック材料の高速測定に対応したMultiferroic IIにLCRメーター、マルチプレクサーの機能を統合した最新テスターです。従来の強誘電体や圧電体の特性評価だけでなく、MEMSセンサーやアクチュエーターの開発に必要な電気機械特性の評価を同時に行うことができます。材料開発の効率向上に大きな役割を果たします。

MultifferoicⅡ

プレシジョンマルチフェロイックテスター II (Precision Multiferroic II tester)はマルチフェロイック材料の計測のために、Premier IIの内蔵アンプをより高速応答が可能な内蔵アンプ(±100V、±200V、±500V)に変更したものです。高速応答計測に高い能力を発揮します。

PremierⅡ

0.5µsまでのパルス幅での分極測定、270kHzまでのヒステリシスの測定を可能とします(±10V)。薄膜、大面積サンプルや高電圧にも幅広く対応し、第四世代テスターとして高い能力を有します。

LCⅡ

LCの後続機として、拡張型のLC IIを開発しました。ヒステリシス計測時間を30秒に増加し、最大32000計測点に対応いたしました。プレシジョンLC IIは高い柔軟性と容易な使い方を、優れたコストパフォーマンスで実現します。大学や研究機関に最適なテスターです。

RT66C

低価格、且つ研究者が必要とする機能を搭載した新型強誘電体テスターです。セットアップ、使い勝手が非常に簡便で強誘電体薄膜や厚膜を簡単な手順で計測可能です。標準仕様として±200V の出力電圧が可能で、追加オプションで±10KV まで拡張可能です。

研究現場のニーズにこだわった豊富なラインナップ

ラジアント・テクノロジー社では強誘電体メモリ、圧電体、ピエゾMEMS、焦電体、メモリ、さらには、薄膜からバルクまで様々な用途で使用可能な強誘電体テスターを世界中に供給しています。RT66AをWindows OS上のVision ソフトウェアに対応させ拡張性を高めたRT66C、汎用機であるLCの性能向上を行ったLCII、上位機種のPremier II、マルチフェロイック材料の高速測定に対応したMultiferroic II、そして、最新機種としてLCRの計測も可能なPiezoMEMS Analyzerといった5種類の強誘電体テスターを取り扱っています。

信頼されるデータ

海外での強誘電体計測に対するラジアント・テクノロジー社の信頼性は、学会論文等をご覧いただければお判り頂けると思います。弊社では各種デモ機をご用意しておりますので、装置の精度や機能、動作確認のご相談は、ぜひお気軽にお問合せください。実際のデモ計測にて、ラジアント・テクノロジー社の試験装置の正確性、柔軟性及び簡便さについてご理解いただけると思います。

主要機能

  • 外部出力ファティーグ機能
  • MEMSテスト用内蔵電源±30V、±100V、±200V、±500V
  • 定常的に変化するパルス幅やヒステリシス測定時間の設定
  • 連続可変パルス幅とヒステリシス測定時間
  • 保護機能つき高機能高電圧インターフェース(HVI)に接続可能
  • バーチャルグラウンド測定回路
  • 内部自動校正素子、高機能プレシジョン・アクセサリーポート
  • 測定用外部センサー・ポート(外部変位計、温度センサー等に接続)
  • 48チャンネルマルチプレクサーによる自動測定。高電圧マルチプレクサー
  • 研究者がテストをカスタマイズすることを可能にするVisionデータ管理ソフトウェア
  • VisionソフトウェアはWindows 8、10(32bit、64bit)対応
  • 研究者間で計測条件やデータをグローバルで共有できるデータ形式
  • LAN規格: 10/100/1000BASE-T(ホストPCに依存)
  • GPIBによるコミュニケーション(ホストPCに依存)
  • 電源は100V~220Vを自動選択

仕様

※スクロールしてご覧いただけます。

Tester Parameter PiezoMEMS Analyzer Multiferroic II Premier II LC II RT66C
電圧レンジ(組込印加電圧アンプ ±100V,  ±200V  ±100V,  ±200V,  ±500V ±10V,  ±30V,  ±100V,  ±200V,  ±500V (内部組込) ±200V
電圧レンジ(外部電圧アンプ+高電圧インターフェース(HVI)を使用) 10kV 10kV 10kV 10kV 10kV
ADC変換バイト数 18 18 18 18 14
最小電荷分解能 0.80fC 0.80fC 0.80fC <10fC 122fC
最小面積分解能 (1bit = 1µC/cm2 換算で) 0.08µ2 0.08µ2 0.08µ2 <1µ2 12.2µ2
最大電荷分解能 5.26mC 5.26mC 5.26mC 276µC 4.8µC
最大面積分解能 (飽和分極値 = 100µC/cm2 と想定して) 52.6cm2 52.6cm2 52.6cm2 2.76cm2 4.8mm2
最大電荷分解能 (高電圧インターフェ-ス (HVI) 付で) 526mC 526mC 526mC 27.6mC 480µC
最大面積分解能 (飽和分極値 = 100µC/cm2 と想定して、但しHVI 有りで) >100cm2 >100cm2 >100cm2 >100cm2 4.8cm2
最大ヒステリシス周波数 270kHz @ 10V 270kHz @ 30V 270kHz @ 100V 100kHz @ 200V 5kHz @ 500V 270kHz @ 10V 270kHz @ 30V 270kHz @ 100V 100kHz @ 200V 5kHz @ 500V 250kHz @ 10V 10kHz @ 30V 10kHz @ 100V 5kHz @ 200V 5kHz @ 500V 5kHz @ 9.9V 5kHz @ 30V 5kHz @ 100V 5kHz @ 200V 5kHz @ 500V     1kHz    
最小ヒステリシス周波数 0.03Hz 0.03Hz 0.03Hz 0.03Hz 0.125Hz
最小パルス幅 0.5µsec 0.5µsec 0.5µsec 50µsec 500µsec
最小パルス立ち上がり時間 (5Vまで) 400nsec 400nsec 400nsec 40µsec 500µsec
最大パルス幅 1sec 1sec 1sec 1sec 0.1sec
最大パルス間遅延時間 40ksec 40ksec 40ksec 40ksec 40ksec
内部時計 25nsec 25nsec 25nsec 25nsec 50µsec
最小リーク電流 (最大電流集積期間 = 1sec と想定) 1pA 1pA 1pA 1pA 10pA
最大微小信号キャパシター周波数 1MHz 1MHz 1MHz 20kHz 2kHz
最小微小信号キャパシター周波数 1Hz 1Hz 1Hz 1Hz 10Hz
出力昇圧時間制御 105 scaling 105 scaling 105 scaling 103 scaling 2 settings
入力キャパシター容量 ~60fF ~60fF ~60fF ~60fF 1pF
電位計 任意速度で全試験について全テスト周波数による入力が 可能 可能 可能 可能 可能
LCR機能 内蔵
マルチプレクサー 内蔵 オプション オプション オプション オプション

※仕様は予告なく変更される場合があります。

Vision 制御ソフトウェア

Visionはラジアント・テクノロジー社製 強誘電体テスター、高電圧発生装置や変位センサーといった外部機器を制御するためのソフトウェアです。通常、お持ちのPC(Windows OS)にインストールし、ホストPCとしてドライバーを介して外部機器に信号を送り、計測の実行、測定データの取り込み、そして、解析を行います。

1つずつデータを確認しながら迅速・簡便に計測を行う“QuikLook”モード、そして、より高度で複雑なプログラムをカスタマイズして実行する“Editor”モードが標準で備わっています。Editorモードでは、ドラッグアンドドロップで容易に試験シーケンスが組み立てられ、さらには、グラフ化だけでなく、座標軸の自動変換、データのエクスポートなど各種計測・データ加工が自由に設計できる仕様になっています。

Vision環境下で取得されたすべてのデータが収集され、計測条件とともにアーカイブデータとして保存されます。そのため、いつでも実行済みのデータの取り出しが可能です。また、データと計測条件は共同研究先とインターネットやイントラネット回線上で共有が可能なため、試験の手順や管理、そして、評価を共有することができます。

VisionはGPIBやLAN等が搭載された外部機器との接続が容易に行えることから、汎用性が高く、外部機器と連携した複雑な計測が容易に実行できます。さらに、ラジアント・テクノロジー社製ではない高電圧アンプや恒温槽といった外部機器との接続も可能です。材料評価でお困りの際にはぜひお問い合わせください。

Vision ソフトウェアに含まれる計測ソフトの一例

  • Hysteresis
  • Time Dependent Component
  • DLTS
  • PAINT
  • リーク電流
  • 疲労試験
  • PUND
  • エナジーカーブ
  • リテンション
  • インプリント

e31計測冶具と組み合わせ、Hysteresis LoopとButterfly Curveを同時に計測

ご不明な点がございましたら、弊社までご連絡ください